Pretražni elektronski mikroskop s izvorom elektrona emisijom iz polja (FEG-SEM)
- Buyer
- Sveučilište u Zagrebu Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije
- Published
- February 4, 2026
Description
Uređaj (s FEG izvorom) za pretražnu elektronsku mikroskopijsku analizu. Omogućuje morfološku, faznu, kemijsku i strukturnu analizu uzoraka visoke rezolucije.
Get tenders like this in one daily alert
Use this notice as context when Tenqual drafts your search scope and fit criteria.