Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne
Purchaser
Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk
Country
Poland
Published
21 Oct 2025
Closing date
Not listed
Source ID
Docs found
—
Save this notice and create a tender alert for similar public opportunities.
- Create one free tender alert.
- See a short explanation of why each tender matches.
- Upgrade later when you want help planning and writing the bid.
Summary
Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek. 3) Zestawu optycznego do podglądu próbki 4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu 5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej. 6) Zestawu komputerowego Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ
Sign in to run AI fit scoring, bid/no bid reviews, and compliance drafting for this tender.